三映電子工業 システム開発部
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SSD選定品質信頼性評価試験サービス
SSD選定のため、耐久性試験により 長期間品質信頼性の高いSSD機種を選定致します。
概 要
  SSDは、サーバーやパソコン、レコーダなど様々な用途に使用されています。 長期間の品質信頼性の確保が重要になってきています。 信頼性評価のための試験により良品選定基準となるような試験結果をご提示いたします。

SSD信頼性評価

1.Write耐久性試験
  5年相当の加速試験(耐用年数の試験変更は可能)
  温度 ⇒ 85℃ 又は Spec上限温度、 低温/高温のサイクル

2.Read/Write耐久性試験
  2年相当の加速試験(耐用年数の試験変更は可能)
  温度 ⇒ 85℃ 又は Spec上限温度、 低温/高温のサイクル
  試験 :4日/44H高温 4H温度変化 44H低温 のサイクル試験
  試験期間:1か月間:7.5サイクル

3.Read Disturb試験
  試験領域 5ポイント 0%、25%、50%、75%、100%
 1).Read Compare は全量域で実施。
    特定エリアの両側Read ⇒ 5000回
    特定エリアRead    ⇒   1回
 2).上記1)項を100回実施、SMART取得(5000回×100回=50万回)
 3).全領域Read性能試験
 4).全領域Read Compare
    ※品質に問題のあるNAND検出試験


SSD機種 Write耐久 Read複合 温度試験 Retention Disturb 電源断 選定
No.1 採用
No.2 × 不採用
No.3 × × 不採用
(例) 試験結果により、No.1 SSDを採用

4.Retention試験
  1〜3年相当 加速試験
    Write後(複数回Write)、高温保管、低温保管
  試験期間:1か月

5.電源遮断・瞬断試験
  全領域を100分割し、瞬断時間:数[ms]と数十[ms]の2パターンで、
  瞬断タイミングを5%,15%,25%,35%,45%,55%,65%,75%,85%,95%に変化させ
  瞬断試験を行う。

6.10日間品質試験
  温度 ⇒  85℃ 又は Spec上限温度、 低温/高温のサイクル
  温度変化による品質信頼性試験(リードタイム:10日)

7.スクリーニング・エージング試験
  初期障害の発生を未然に防ぐ温度エージングと
  Read/Writeと高温/低温の温度変化による品質試験

   
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