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■SSD障害解析サービスとは
障害事象の確認だけではなく、どういった障害が起こっているか、そこにはどういう理由が考えられるか、といった障害の真の原因究明に全力を尽くします。
また、豊富な経験と知識から障害改善へ向けたコンサルティングにも応じることが可能です。
■解析内容
障害解析は大きく3つのステージに分けて実施します。
・一次診断
トップカバーを外し、チップの外観検査、I/Fコネクター等の検査を行います。
起動しないSSD及び故障したSSDのIdentify情報(注1)／SMART情報(注2)を
弊社のテスターで取得し、SSDの状態を調べます。
性能調査とERROR有無の調査を行います。
内部ログの解析から、コントローラー、NANDチップの切り分け調査を行います。
診断結果と原因推定・考察を報告し対策を提案します。
注1)Identify情報：HDD/SSDの固有情報や現在の設定値などの情報
注2)SMART：HDD/SSDの健康状態をデバイス自身が発行する各種の情報
| Read 性能測定 |
Write 性能測定 |
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| IDENT 情報取得 |
00 General configuration info
01 Default logical # of cylinders
02 Specific configuration
03 Default logical # of heads
06 Default logical # of secs/trk
・・・・・・・・・・・・・・・・・
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0C5A
3FFF
C837
10
003F
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| SMART 情報取得 |
ID:1 Read Error Rate 000600000000 0 000000000000 0
ID:5 Reallocated Sectors Count 00000000000B 11 00000000000B 11 代替処理された不良セクタの数
ID:9 Power-On Hours 7F8800000E85 3717 271000000E86 3718
ID:12 Device Power Cycle Count 0000000005D8 1496 0000000005D9 1497
ID:171 SSD Program Fail Count 000000000000 0 000000000000 0
ID:172 SSD Erase Fail Count 000000000000 0 000000000000 0
ID:174 Unexpected power loss count 000000000043 67 000000000043 67 予期しない電源断回数
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・二次診断
更に原因を絞る必要がある場合には
・エラーレート試験：NANDチップの劣化状態を把握。
・SATAI/Fコンプライアンス試験：SATA規格に沿ったI/Fラインであるか確認。
・コネクタ端子等の化学分析：腐蝕、インピーダンス等
| ECCエラー調査 |
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| NANDチップ内のBlockAddressとPageAddressにおけるエラーレート |
| 分解調査 |
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| SSD 内部 |
・三次診断
コントローラー・NANDチップ表面と断面調査
不具合箇所のSEM/EDX分析・GC-MS分析
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| 異常個所の調査（樹脂残差もしくは、付着異物の有無確認） |
結果と原因推定と考察を記載
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