三映電子工業 システム開発部
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SSD障害解析サービス
産機向けのストレージとしてHDDからSSD等へ切替が進む中、 障害発生件数も増加の傾向にあります。 一般にSSDはブラックボックスとされ、SSDベンダーへの調査依頼しか 方法がないように思われています。しかし、ベンダー調査の報告書では ほぼ100%近くがユーザの使用方法の問題にされています。 弊社の調査ではベンダー起因のもの、品質が低いため、選定ミス、等 お客様の使用方法も含めて様々な要因があります。 これらの要因がハッキリしないと、製品トラブルの対策がとれません。 弊社では、豊富な経験、実績からお客様にご満足いただける 障害調査をご提供することができます。
概 要
  SSD障害解析は、障害事象の状況診断とコントローラー/NANDチップの不具合の調査により故障原因を追及します。
障害解析は大きく3つのステージに分けて実施致します。
   
特 徴
 

■SSD障害解析サービスとは
障害事象の確認だけではなく、どういった障害が起こっているか、そこにはどういう理由が考えられるか、といった障害の真の原因究明に全力を尽くします。 また、豊富な経験と知識から障害改善へ向けたコンサルティングにも応じることが可能です。

サービス内容
障害解析は大きく3つのステージに分けて実施します

・一次診断(状況調査)

起動しないSSD/故障したSSDのIDENT情報/SMART情報を弊社のテスターで取得し、SSDの状態を調べます。
アクセス出来ない阻害要因のBADブロックを修正して、性能調査とERROR有無の調査に挑戦します。 また、トップカバーを外してチップ外観調査を行います。
二次診断(コントローラー、NANDチップの切り分け調査)、三次診断(障害再現、原因追及調査)の提案を行います。


Read 性能測定 Write 性能測定
Read性能測定 Write性能測定
IDENT 情報取得
00 General configuration info
01 Default logical # of cylinders
02 Specific configuration
03 Default logical # of heads
06 Default logical # of secs/trk
・・・・・・・・・・・・・・・・・
0C5A
3FFF
C837
10
003F
SMART 情報取得
ID:1 Read Error Rate 000600000000 0 000000000000 0
ID:5 Reallocated Sectors Count 00000000000B 11 00000000000B 11 代替処理された不良セクタの数
ID:9 Power-On Hours 7F8800000E85 3717 271000000E86 3718
ID:12 Device Power Cycle Count 0000000005D8 1496 0000000005D9 1497
ID:171 SSD Program Fail Count 000000000000 0 000000000000 0
ID:172 SSD Erase Fail Count 000000000000 0 000000000000 0
ID:174 Unexpected power loss count 000000000043 67 000000000043 67 予期しない電源断回数
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・

状況診断結果:コメント
二次診断提案:コメント

・二次診断(コントローラー、NANDチップ 調査)

ECCエラー調査
NANDチップ内BLK/PAGE ADRS
NANDチップ内のBlockAddressとPageAddress
分解調査
SSD内部
SSD 内部

結果と原因推定と考察を記載

・三次診断(コントローラー・NANDチップ表面と断面 調査)

チップ表面と断面1 チップ表面と断面2
チップ表面と断面3
異常個所の調査(樹脂残差もしくは、付着異物の有無確認)

結果と原因推定と考察を記載

   
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